您的位置：HAST高壓加速老化試驗箱
簡(jiǎn)要描述：HAST高壓加速老化試驗箱是一種用于對電子元器件和材料進(jìn)行快速老化測試的設備。它主要通過(guò)提高溫度和濕度來(lái)模擬惡劣環(huán)境條件，從而加速產(chǎn)品老化過(guò)程。通常在100°C至150°C的溫度范圍內，以及相對濕度達到85%至95%的條件下進(jìn)行測試。這種條件下，試驗箱可以在相對較短的時(shí)間內模擬出類(lèi)似于長(cháng)時(shí)間自然老化過(guò)程的效果。配備了一套控制系統，用于監測和調節溫度、濕度等參數，以確保測試的準確性和可靠性。
產(chǎn)品型號：DR-HAST-350- 廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 更新時(shí)間：2023-08-09
- 訪(fǎng) 問(wèn) 量：272
產(chǎn)品用途：用于評估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，對芯片、半導體等其他元器件進(jìn)行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應力壽命老化試驗。
執行試驗標準：
GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩態(tài)濕熱
JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）
JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗濕性滲透）
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118溫濕度無(wú)偏壓高加速應力實(shí)驗UHAST（無(wú)偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
HAST高壓加速老化試驗箱的主要特點(diǎn)如下：
高溫高濕環(huán)境模擬：HAST試驗箱能夠模擬出高溫高濕的條件，通常在100°C至150°C的溫度范圍內，相對濕度達到85%至95%，可以快速加速產(chǎn)品的老化過(guò)程。
短周期測試：相比于自然老化測試，HAST試驗箱能夠在短時(shí)間內完成老化測試，大大縮短了測試周期，提高了測試效率。
可靠性和準確性：試驗箱配備了專(zhuān)業(yè)的控制系統，可以精確地監測和調節溫度、濕度等參數，從而確保測試的準確性和可靠性。
密封性能良好：HAST試驗箱的內部采用高質(zhì)量不銹鋼材料制造，具有優(yōu)異的密封性能，可以有效地防止外界環(huán)境對試驗結果的干擾。
廣泛適用性：HAST試驗箱廣泛應用于各個(gè)行業(yè)，包括電子產(chǎn)品、汽車(chē)零部件、航空航天等領(lǐng)域，適用于各種電子元器件和材料的老化測試。
評估產(chǎn)品可靠性：通過(guò)HAST試驗箱進(jìn)行測試，可以提前評估產(chǎn)品在惡劣條件下的可靠性和耐久性，預測產(chǎn)品的使用壽命和在困難環(huán)境下的性能表現，為產(chǎn)品設計和改進(jìn)提供指導。
HAST高壓加速老化試驗箱具有快速、準確、可靠的特點(diǎn)，是進(jìn)行電子元器件和材料老化測試的重要工具。
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