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“環(huán)境調節"或“環(huán)境試驗"一詞表示的是設備或零部件在實(shí)際可能所處的使用、運輸和貯存的自然或人工環(huán)境下的性能評估。
盡管維持和測量溫度和/或濕度的方法對試驗結果的影響很大,但是任何出版物中都未描述用于“環(huán)境調節"或“環(huán)境試驗"的溫度/濕度箱。溫度/濕度箱的物理特性也會(huì )影響試驗結果。
在該系列標準中,GB/T 2424《環(huán)境試驗 第3部分∶支持文件及導則》每個(gè)文件分別給出了一組環(huán)境試驗的背景資料。
1981年以來(lái),GB/T 2424先后發(fā)布了20余項文件(現行國家標準13項,其中12項采用IEC60068 《環(huán)境試驗》),現行GB/T2424組成部分詳見(jiàn)附錄下表:
GB/T2424的組成部分
GB/T 2424.1—2015 環(huán)境試驗 第3部分∶支持文件及導則 低溫和高溫試驗(IEC60068-3-1∶2011,IDT)
GB/T 2424.2—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 濕熱試驗導則(IEC60068-3-4∶2001,IDT)
GB/T 2424.5—2021 環(huán)境試驗 第3部分∶支持文件及導則 溫度試驗箱性能確認(IEC60068-3-5:2018,IDT)
GB/T 2424.6—2021 環(huán)境試驗 第3部分∶支持文件及導則 溫度/濕度試驗箱性能確認(IEC 60068-3-6:2018,IDT)
GB/T 2424.7—2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗 A和B(帶負載)用溫度試驗箱的測量(IEC60068-3-7:2001,IDT)
GB/T 2424.10—2012 環(huán)境試驗 大氣腐蝕加速試驗的通用導則
GB/T 2424.11—2013 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗 Kc∶接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗導則(IEC 60068-2-49∶1983,IDT)
GB/T 2424.12—2014 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗 Kd∶接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗導則(IEC 60068-2-46∶1982,IDT)
GB/T 2424.15—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/低氣壓綜合試驗導則(IEC60068-3-2∶1976,IDT)
GB/T 2424.17—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗T∶錫焊試驗導則(IEC 60068-2-44:1995,IDT)
GB/T 2424.25—2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分∶試驗導則 地震試驗方法(IEC60068-3-3:1991,IDT)
GB/T 2424.26—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分∶支持文件和導則 振動(dòng)試驗選擇(IEC 60068-3-8:2003,IDT)
GB/T 2424.27—2013 環(huán)境試驗 支持文件和指南 溫濕度試驗箱不確定度計算(IEC60068-3-11:2007,IDT)
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