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國家標準GB/T 2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》是非常常用的一套環(huán)境試驗方法，廣東德瑞檢測認真研究并研發(fā)了該標準涉及的測試儀器，為了方便大家對產(chǎn)品的測試更加了解，公司特意整理了該系列標準的合集，需要下載的可以直接點(diǎn)擊，有需要咨詢(xún)的，可加微信或發(fā)郵箱。

GB/T 2423《環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法》包括了環(huán)境試驗及其嚴酷等級的基礎信息，并規定了各種測量和試驗用大氣條件，用于評定試驗樣品在預期的運輸、貯存以及各種使用環(huán)境下的工作能力。在該系列標準中，GB/T 2423每個(gè)文件分別介紹了一組試驗和應用。GB/T 2423旨在為產(chǎn)品規范制定者和產(chǎn)品試驗者提供一系列統一且可重復的環(huán)境、氣候、機械和組合試驗，并包含了測量和試驗用標準大氣條件。

1981年以來(lái)，GB/T2423先后發(fā)布了50余項文件，GB/T2423組成文件詳見(jiàn)下表。

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GB/T2423的組成部分

GB/T2423.1—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗A∶低溫（IEC60068-2-1:2007,IDT)

GB/T2423.2—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗B∶高溫（IEC60068-2-2:2007,IDT)

GB/T2423.3—2016 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Cab∶恒定濕熱試驗（IEC60068-2-78:2012,IDT)

GB/T2423.4—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Db∶交變濕熱（12h+12h循環(huán)）（IEC60068-2-30∶2005，IDT）

GB/T2423.5—2019 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Ea和導則∶沖擊（IEC 60068-2-27∶2008,IDT)

GB/T2423.6—1995環(huán)境試驗 試驗Eb和導則碰撞

GB/T2423.7—2018 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗 Ec∶粗率操作造成的沖擊（主要用于設備型樣品）（IEC 60068-2-31∶2008，IDT）

GB/T2423.8—1995環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Ed自由跌落

GB/T2423.9—2001環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Cb：設備用恒定濕熱

GB/T2423.10—2019 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Fc∶振動(dòng)（正弦）（IEC60068-2-6∶2007,IDT)

GB/T2423.11—1997環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Fd寬頻帶隨機振動(dòng)-一般要求

GB/T2423.12—1997環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Fda寬頻帶隨機振動(dòng)-高再現性

GB/T2423.13—1997環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Fda寬頻帶隨機振動(dòng)-中再現性

GB/T2423.14—1997環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Fda寬頻帶隨機振動(dòng)-低再現性

GB/T2423.15—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Ga和導則∶穩態(tài)加速度（IEC60068-2-7∶1986，IDT）

GB/T2423.16—2022環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導則：長(cháng)霉

GB/T2423.17—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗 Ka∶鹽霧(IEC 60068-2-11:1981,IDT)

GB/T2423.18—2021 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗 Kb∶鹽霧，交變（氯化鈉溶液）(IEC60068-2-52:2017,IDT)

GB/T2423.19—2013 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Kc∶接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗（IEC60068-2-42∶2003，IDT）

GB/T2423.20—2014 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗 Kd∶接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(IEC 60068-2-43:2003,IDT)

GB/T2423.21—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗 M∶低氣壓(IEC 60068-2-13:1983,IDT)

GB/T2423.22—2012 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗N∶溫度變化（IEC 60068-2-14∶2009,IDT)

GB/T2423.23—2013 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗 Q∶密封（IEC60068-2-17∶1994，IDT)

GB/T2423.24—2022 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗S∶模擬地面上的太陽(yáng)輻射及太陽(yáng)輻射試驗和氣候老化試驗導則（IEC60068-2-5∶2018，IDT）

GB/T2423.25-2008環(huán)境試驗?試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗

GB/T2423.26-2008環(huán)境試驗?試驗Z∕BM：高溫∕低氣壓綜合試驗

GB/T2423.27—2020 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗方法和導則∶溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗（IEC60068-2-39∶2015，IDT）

GB/T2423.28—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗T∶錫焊（IEC60068-2-20:1979,IDT)

GB/T2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗U引出端及整體安裝件強度

GB/T2423.30—2013 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗 XA和導則；在清洗劑中浸漬(IEC 60068-2-45:1980/Amd 1:1993,MOD)

GB/T2423.31-1985環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 傾斜和搖擺試驗

GB/T2423.32—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Ta∶潤濕稱(chēng)量法可焊性（IEC60068-2-54∶2006，IDT）

GB/T2423.33—2021 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Kca∶高濃度二氧化硫試驗

GB/T2423.34—2012 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Z/AD∶溫度/濕度組合循環(huán)試驗(IEC60068-2-38:2009,IDT)

GB/T2423.35—2019 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗和導則 氣候（溫度、濕度）和動(dòng)力學(xué)（振動(dòng)、沖擊）綜合試驗（IEC60068-2-53∶2010，IDT）

GB/T2423.36-2005環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法?試驗ZBFc散熱和非散熱樣品的高溫振動(dòng)(正弦)綜合試驗方法

GB/T2423.37—2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗L∶沙塵試驗(IEC 60068-2-68:1994,IDT)

GB/T2423.38—2021 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗R∶水試驗方法和導則（IEC60068-2-18:2017,IDT)

GB/T2423.39—2018 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗 Ee和導則∶散裝貨物試驗包含彈跳(IEC60068-2-55:2013,IDT)

GB/T2423.40—2013 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Cx∶未飽和高壓蒸汽恒定濕熱(IEC 60068-2-66:1994,IDT)

GB/T2423.41—2013 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 風(fēng)壓

GB/T2423.42-1995環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 低溫低氣壓振動(dòng)(正弦)綜合試驗方法

GB/T2423.43—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 振動(dòng)、沖擊和類(lèi)似動(dòng)力學(xué)試驗樣品的安裝（IEC60068-2-47∶2005，IDT）

GB/T2423.44-1995環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Eg：撞擊彈簧錘

GB/T2423.45—2012 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Z/ABDM∶氣候順序（IEC60068-2-61:1991,MOD)

GB/T2423.46-1997環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Ef：撞擊擺錘

GB/T2423.47—2018 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Fg∶聲振（IEC60068-2-65∶2013，IDT）

GB/T2423.48—2018 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Ff∶振動(dòng) 時(shí)間歷程和正弦拍頻法(IEC60068-2-57:2013,IDT)

GB/T2423.49-1997環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法?試驗Fe：振動(dòng)-正弦拍頻法

GB/T2423.50—2012 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Cy∶恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗（IEC 60068-2-67∶1995，IDT）

GB/T2423.51—2020 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗 Ke∶流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(IEC60068-2-60:2015,IDT)

GB/T2423.52—2003 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗77∶結構強度與撞擊(IEC 60068-2-77:1999,IDT)

GB/T2423.53—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗 Xb∶由手的摩擦造成標記和印刷文字的磨損（IEC 60068-2-70∶1995，IDT）

GB/T2423.54—2022 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗 Xc∶流體污染（IEC 60068-2-74∶2018,IDT)

GB/T2423.55—2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗 Eh∶錘擊試驗(IEC 60068-2-75:1997,IDT)

GB/T2423.56—2018 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Fh∶寬帶隨機振動(dòng)和導則(IEC60068-2-64:2008,IDT)

GB/T2423.57—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Ei∶沖擊 沖擊響應譜合成（IEC60068-2-81∶2003，IDT）

GB/T2423.58—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Fi∶振動(dòng) 混合模式(IEC60068-2-80:2005,IDT)

GB/T2423.59—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Z/ABMFh∶溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機）綜合

GB/T2423.60—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗U∶引出端及整體安裝件強度（IEC60068-2-21∶2006，IDT）

GB/T2423.61—2018 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗和導則∶大型試件砂塵試驗

GB/T2423.62—2018 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Fx和導則∶多輸入多輸出振動(dòng)

GB/T2423.63—2019 環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗∶溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（混合模式）綜合

GB/T2423.101—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗∶傾斜和搖擺

GB/T 2423.102—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗∶溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合